SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。
拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。

分辨率
高真空：3 nm @ 30 kV（SE），8 nm @ 3 kV（SE），4 nm @ 30 kV（BSE）
①低真空：3 nm @ 30 kV（SE）

放大倍率
②1~300，000x ；③1~1000，000x

加速电压
0.2 kV ～ 30 kV

①选配低真空二次电子探测器； ②底片倍率； ③屏幕倍率

低电压
低真空
大视场
导航&防碰撞

光学导航
想看哪里点哪里，导航更轻松
标配仓内摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品。

手势快捷导航
可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大，进行快捷导航
如框选放大：在低倍导航下，获得样品的大视野情况，可快速框选您感兴趣的样品区域，提高工作效率。

防碰撞技术
采取多维度的防碰撞方案：
1. 手动输入样品高度，精准控制样品与物镜下端距离，防止发生碰撞；
2. 基于图像识别和动态捕捉技术，运动过程中对仓内的画面进行实时监测；
3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬间停止电机，减少碰撞损伤。(*SEM3200A需选配此功能）

丰富扩展性
扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。
SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。
 

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