[产品简介]
蔡司X射线显微镜Xradia 515 Versa，凭借其突破性技术和高分辨率探测器，将3DX 射线显微镜 ( XRM ) 的性能提升至新的高度，为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时，该系统可实现高达500 nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件，实现分辨率的改善和突破。与此同时，该产品还加入了更多的智能的元素，并且具有更广阔的拓展能力。兼容ART高级重构工具箱，利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。
 
此外，Xradia 515 Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。结合蔡司XRM平台的灵活性和稳定性，该产品无与伦比的多功能、多应用领域特点将为您的研究工作快速的提供分析成果。
 
[产品特点]
三维无损成像
500 nm真实空间分辨率
独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像
吸收、相位衬度成像模式
智能防撞系统，让您的设置更简单、更智能
4D 原位成像能力
可升级、拓展和可靠性
利用AI技术提高成像效率或改善成像质量
 
[应用领域]
材料科学：如电池、金属、陶瓷、高分子、混凝土等三维无损分析
生命科学：如动植物组织的微观结构三维成像
地球科学：如地质、油气、矿物、古生物等三维成像
电子和半导体行业：如形貌测量及失效分析
原位力学热学实验
 

材料科学：聚合物电解质燃料电池

生命科学：蟹螯

地球科学：页岩异质结构

电子半导体：封装三维结构